日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D

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更新日期：2024-03-20

簡要描述：

日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D
非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

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日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D

非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D

測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C），校準(zhǔn)后90天[校準(zhǔn)后1年：雙倍]

測量范圍	標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍	測量電流	測量精度^*
測量范圍	標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定范圍	測量電流	慢 [高分辨率]	快速 [LO-Resco.]	快速 [Lo-Resco.]
100mΩ	5mΩ-100mΩ	180mA	±0.01%±α±10d以內(nèi)	±0.02%±α±2d以內(nèi)	± 0.03% ± 2α ± 3d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	180mA	±0.005%±α±3d以內(nèi)	±0.02%±α±1d以內(nèi)	± 0.02% ± α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	90mA	±0.005%±α±3d以內(nèi)	±0.02%±α±1d以內(nèi)	± 0.02% ± α ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	18mA	±0.005%±1d以內(nèi)	±0.02%±1d以內(nèi)	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	9mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.9mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	90μA
1兆歐	100.1kΩ～1MΩ	9μA	±0.007%±1d以內(nèi)		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.9 微安	±0.02%±10d以內(nèi)	±0.03%±1d以內(nèi)	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ-100MΩ	0.09 微安	±0.1%±20d以內(nèi)	±0.1%±2d以內(nèi)	----

* D = 位數(shù)，n = 積分時間（毫秒），應(yīng)用 Lo-Reso。測量值時
% 測量時：α = (100 / 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值 mΩ) x 0.01%，測量值時：α = 0 ( add ± 1d)
* *屏蔽狀態(tài)下的精度

測量時間	外部啟動		自由奔跑
	慢	快速地	慢	快速地
	大約 24 毫秒-400 毫秒。	大約 11 毫秒-400 毫秒。	約5次/秒～約2次/秒	約10次/秒～約2次/秒