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seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測(cè)SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
seiwaopt硅晶片背面圖案光源檢測(cè)SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1562
日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt硅晶片內(nèi)部檢查光源SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1591
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt非破壞性檢查光源SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1479
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt近紅外光纖光源裝置SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1521
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt近紅外線照射裝置SIS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-25 訪問量：1411
日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠碨IS-150 它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如硅晶片的內(nèi)部檢查和背面圖案的觀察。
更新日期：2025-05-02 訪問量：1864
SIS-150（-NIR / -AIR）日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠?光學(xué)測(cè)量?jī)x
日本seiwaopt近紅外鹵素?zé)艄庠碨IS-150（-NIR / -AIR） 一種在近紅外區(qū)域具有峰值的光纖光源設(shè)備。 通過將其與專yong光學(xué)系統(tǒng)和對(duì)近紅外區(qū)域敏感的相機(jī)配合使用，它非常適合無(wú)損檢測(cè)，例如Si晶圓的內(nèi)部檢測(cè)和背面圖案的觀察。
更新日期：2024-03-19 訪問量：2265
