黑白投射密度計(jì)T5 PLUS在光學(xué)薄膜材料上的運(yùn)用

發(fā)布日期：2023-12-13      瀏覽次數(shù)：1059

黑白投射密度計(jì)T5 PLUS在光學(xué)薄膜材料上的運(yùn)用

光學(xué)薄膜是改變光學(xué)零件表面特征而鍍?cè)诠鈱W(xué)零件表面上的一層或多層膜?？梢允墙饘倌?、 介質(zhì)膜或這兩類膜的組合。光學(xué)薄膜是各種先進(jìn)光電技術(shù)中不可少的一部分，它不僅能改善系統(tǒng)性能，而且是滿足設(shè)計(jì)目標(biāo)的必要手段，光學(xué)薄膜的應(yīng)用領(lǐng)域涉及光學(xué)系統(tǒng)的各個(gè)方面，包括激光系統(tǒng)，光通信，光顯示，光儲(chǔ)存等，主要的光學(xué)薄膜器件包括反射膜、減反射膜、偏振膜、干涉濾光片和分光鏡等等。

光學(xué)薄膜在我們的生活中無(wú)處不在，從精密 及光學(xué)設(shè)備、顯示器設(shè)備到日常生活中的光學(xué)薄膜應(yīng)用；比方說(shuō)，平時(shí)戴的眼鏡、數(shù)碼相機(jī)、各式家電用品，或者是錢上的防偽技術(shù)，皆能被稱之為光學(xué)薄膜技術(shù)應(yīng)用之延伸。倘若沒(méi)有光學(xué)薄膜技術(shù)作為發(fā)展基礎(chǔ)，近代光電、通訊或是鐳射技術(shù)將無(wú)法有所進(jìn)展，這也顯示出光學(xué)薄膜技術(shù)研究發(fā)展的重要性。

薄膜由分層介質(zhì)構(gòu)成，通過(guò)界面?zhèn)鞑ス馐活惞鈱W(xué)介質(zhì)材料，光學(xué)薄膜的應(yīng)用始于20 世紀(jì)30年代，光學(xué)薄膜已經(jīng)廣泛用于光學(xué)和光電子技術(shù)領(lǐng)域，制造各種光學(xué)儀器，制備條要求件高而精。

薄膜透光率測(cè)試儀是現(xiàn)代光學(xué)檢測(cè)中*工具，而黑白投射密度計(jì)T5 PLUS則是這一領(lǐng)域。這款儀器利用精密的光學(xué)原理，能夠精確測(cè)量薄膜的透光率，為各種薄膜材料的質(zhì)量控制提供了強(qiáng)有力的支持。



黑白透射密度/透過(guò)率計(jì)T5 plus

特點(diǎn)/測(cè)量項(xiàng)目

?濃度測(cè)定
?正網(wǎng)點(diǎn)%
?負(fù)網(wǎng)點(diǎn)%
?透過(guò)率
?校正功能

配件

?孔徑 φ3mm、φ2mm、φ1mm
?使用說(shuō)明書(shū)（帶保證書(shū)）
?校準(zhǔn)膜
?確認(rèn)膜
?AC 適配器（9V、500mA）
?通信電纜（另售）
?便攜包（另售）

物品描述

內(nèi)置光臺(tái)可實(shí)現(xiàn)精確的濃度（透射率）測(cè)量。

主要測(cè)量對(duì)象：薄膜、玻璃、樹(shù)脂

可以使用上面列出的材料以外的材料進(jìn)行測(cè)量，只要它們能透光即可。

*對(duì)于T5plus標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，測(cè)量目標(biāo)的厚度在1mm以內(nèi)。

　即使超過(guò)1mm，我們也可以通過(guò)修改等方式處理，因此請(qǐng)與我們聯(lián)系。

它具有校正功能，可與其他制造商的密度計(jì)兼容。

可以顯示類似的測(cè)量值。

通過(guò)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品無(wú)法適應(yīng)的尺寸和形狀進(jìn)行修改。