產品概述
FUNATECH FY-18系列是一款專為工業(yè)表面檢測設計的高性能LED檢查燈，憑借其光學性能和人性化設計，已成為半導體、電子顯示、光學制造等精密行業(yè)的標準檢測工具。該系列產品通過創(chuàng)新的光學解決方案，為表面缺陷檢測提供了全新的可視化標準。
核心技術特點
光學系統(tǒng)升級
采用第三代高密度LED陣列技術，F(xiàn)Y-18N型號中心照度達34,000 lux(透明濾鏡條件下)
雙色溫調節(jié)系統(tǒng)，可在5000K-6500K范圍內精確調節(jié)色溫
光譜純度提升技術，波長偏差控制在±5nm以內
智能控制系統(tǒng)
數字式無極調光系統(tǒng)(10%-100%連續(xù)可調)
可選配智能感應模塊，支持距離自適應亮度調節(jié)
內置光強記憶功能，可存儲5組常用照明參數
先進散熱方案
納米級導熱管+石墨烯復合散熱系統(tǒng)
工作溫度范圍擴展至-20℃~50℃
熱阻降低40%，確保長時間穩(wěn)定工作
專業(yè)型號配置
FY-18N 專業(yè)版(白光)
? 標配高透光學透鏡(透光率≥92%)
? 可選配偏振濾光套件(消光比100:1)
? 支持UV-A波段擴展(選配365nm模塊)
FY-18L 護眼版(黃光)
? 符合IEC62471光生物安全標準
? 特殊波長590nm±10nm
? 內置眩光抑制系統(tǒng)
工業(yè)級結構設計
• 軍級鋁合金機身(IP54防護等級)
• 360°可旋轉萬向支架(定位精度±0.5°)
• 模塊化快拆設計(濾光片更換時間<3s)
行業(yè)應用解決方案
半導體制造
晶圓缺陷檢測：可識別≥0.2μm的表面顆粒
光刻膠殘留檢查：專用365nm紫外模塊
BGA焊點檢測：配備30°斜射光學鏡頭
顯示面板行業(yè)
OLED Mura缺陷檢測：特殊漫射光學方案
偏光片異物檢查：平行度<0.5°
曲面屏檢測：自適應曲面補償技術
精密光學
鏡片鍍膜檢查：多角度照明系統(tǒng)
光學平面度檢測：配備激光定位輔助
金屬加工
表面粗糙度評估：Ra 0.05-0.8μm可識別
微裂紋檢測：軸向分辨率達10μm
質量控制體系
• 通過ISO9001/14001雙認證
• 每臺設備獨立光學檢測報告
• 36個月超長質保期
技術服務支持
提供定制化光譜解決方案
免費現(xiàn)場光學檢測方案設計
定期校準維護服務
該產品系列已廣泛應用于全球500強制造企業(yè)，其性能和可靠性使其成為工業(yè)4.0時代智能檢測的重要工具。通過持續(xù)的光學創(chuàng)新，F(xiàn)Y-18系列正在重新定義表面檢測的精度標準。
