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圖像分析型粒度分布測(cè)量軟件Mac-View介紹
結(jié)合各種識(shí)別工具，實(shí)現(xiàn)對(duì)所有粒子的測(cè)量和分析
通過(guò)讀取SEM或TEM拍攝的圖像并識(shí)別目標(biāo)顆粒，自動(dòng)計(jì)算粒度分布并量化顆粒形狀。
通過(guò)使用手寫板的手動(dòng)分析工具，可以輕松識(shí)別形狀復(fù)雜的顆粒和聚集的顆粒。
Mac-View Version.5 的新功能和改進(jìn)
-在粒子采集模式中增加了“針形"
■ 凝聚粒子的一次粒徑分析
可以評(píng)價(jià)凝集粒子的初級(jí)粒徑，這在過(guò)去是困難的。
■ 納米粒子的評(píng)價(jià)
只要有尺度信息，無(wú)論顆粒大小如何，都可以進(jìn)行分析。
■ 多方面分析/評(píng)估
可以自動(dòng)測(cè)量粒度分布并分析顆粒形狀（圓度、縱橫比等）。另外，可利用的數(shù)據(jù)豐富，可以評(píng)價(jià)凝聚粒子的初級(jí)粒子。
■ 易于操作
不需要特別的知識(shí)，操作簡(jiǎn)單，與作業(yè)人員的熟練程度無(wú)關(guān)。
■ 無(wú)需昂貴的資本投資
只要您準(zhǔn)備好圖像（jpeg、位圖），您就可以在 PC 上安裝軟件后立即使用它。
納米粒子、凝聚粒子、造粒體、燒結(jié)體截面、乳化粒徑等
■ 粉體分析綜合軟件Mac-PIAS
Mac-PIAS是一個(gè)全新維度的綜合粉體分析軟件，可以對(duì)任何方法測(cè)得的“粒度分布數(shù)據(jù)"進(jìn)行統(tǒng)一管理和分析。
■ 篩分試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析軟件Macmesh
Macmesh 是一種工具，可以消除篩選測(cè)試中的人為錯(cuò)誤，數(shù)據(jù)量大，工作效率高。
| 測(cè)量功能 | 面積/周長(zhǎng)/長(zhǎng)軸/短軸/長(zhǎng)度/小長(zhǎng)度/海伍德直徑/周長(zhǎng)圓當(dāng)量直徑/圓度系數(shù)/縱橫比/形狀系數(shù)1-3/費(fèi)雷特直徑/馬丁直徑/克魯姆貝因直徑/雙軸平均直徑，雙軸幾何平均直徑、雙軸協(xié)調(diào)平均直徑、長(zhǎng)度等。 |
|---|---|
| 分析功能 | 粒度%·ON/PASS分析·體積/數(shù)量/長(zhǎng)度轉(zhuǎn)換·峰數(shù)據(jù)分析·匯總數(shù)據(jù)分析·粒度分類轉(zhuǎn)換·篩選垂直轉(zhuǎn)換·形狀系數(shù)分析·數(shù)據(jù)合成·數(shù)據(jù)分組 |
| 其他功能 | 各種圖形顯示功能、各種打印輸出功能、文本輸出功能、圖像輸出功能等 |
| 操作環(huán)境 | ● PC/AT 兼容機(jī)運(yùn)行Microsoft Windows 7/8/10（兼容32/64 位） * 如果您使用的是Windows 7/8 ，請(qǐng)通過(guò)Windows Update 安裝的更新程序。 ● 用于許可證認(rèn)證的 USB 硬件 配備可用于密鑰的 USB 端口（必需） ● 連接掃描儀（TWAIN 兼容）和可選液晶數(shù)位板時(shí)，需要 USB 端口等接口 ● 顯示器: 顯示高達(dá)全高清分辨率 (1,920 x 1,080) ● CPU：根據(jù)操作系統(tǒng)要求的試用（CPU 1 GHz 或更高） ● 內(nèi)存：推薦 2GB 或更多 ● 至少需要 200MB 的可用空間在內(nèi)部硬件 ● 安裝 有時(shí)需要 CD-ROM 驅(qū)動(dòng)器 |
| 對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn) | 基于 JIS Z 8827-1 |
