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粘性保護膜用臺式離線測厚儀TOF-C2介紹
| 模型 | TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號 |
|---|---|
| 測量方法 | 非接觸式/電容式 |
| 測量對象 | 薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜 |
| 測量原理 | 電容式 |
高測量分辨率
由于是非接觸型，因此非常適合接觸型難以測量的薄膜。
即使表面狀況粗糙，也可以進行測量。
基重測量
操作簡單（具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能）
| 測量厚度 | ~ 500 微米 |
|---|---|
| 測量長度 | 10 至 10000 毫米 |
| 測量間距 | 1 毫米 ~ |
| 小顯示值 | 0.01微米 |
| 電源電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
| 工作溫度限制 | 5-40℃（測量時溫度變化1℃以內(nèi)） |
| 濕度 | 35-80%（無冷凝） |
離線式測厚儀是臺式緊湊型測厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測量。由于測量是在自動運輸?shù)耐瑫r進行的，因此任何人都可以輕松快速地進行測量，并且不受測量者技能的影響是一大特點。
常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應(yīng)用。此外，由于測量的圖形可以以環(huán)形顯示，因此經(jīng)常用于充氣膜的制造現(xiàn)場。
測量方法
測量對象
薄膜、片材
測量厚度
0.03 至 3 毫米
測量方法
測量對象
這個電影
測量厚度
0.02-0.2毫米
測量方法
測量對象
薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）
測量厚度
5-100微米
測量方法
測量對象
薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜
測量厚度
~ 500 微米
測量方法
測量對象
電子、光學(xué)用透明平滑膜、多層膜
測量厚度
1 至 50 μm（用于薄材料）
10 至 150 μm（用于厚材料）
測量方法
測量對象
鋼板或鋁板等金屬板
測量厚度
0.1-0.5毫米
